能量分散式(ED-XRF)

NEX CG II Series





全新推出 新一代NEX CG II Series提供更靈敏偵測極限能力




 




產品說明





Rigaku NEX CG II Series是能量分散式X射線螢光光譜儀(EDXRF)，廣範地應用在多樣化樣品的定量與半定量元素分析，濃度範圍從ppm至wt%。
​RPF-SQX理論定量軟體， Rigaku在軟體中利用此項技術，使其在幾乎所有類型的樣品中皆能夠進行半定量分析，此外也能夠在有標準品時進行精確的定量分析。軟體中亦運用Rigaku著名的分散基礎參數(fundamental parameter, FP)法，能夠自動估算未觀察的低原子序元素(H to F)的濃度，並給予適當的修正。藉由一個給定標準的校正擬合，相較於一般的EDXRF分析軟體，RPF-SQX 大量減少了標準品需求的數量，因此在標準品價格昂貴又難以取得的情況之下，RPF-SQX 更是能降低持有成本，並減少例行的工作量。

Rigaku NEX CG II Series搭載獨特的緊密耦合解析幾何光學核心(close-coupled Cartesian Geometry optical kernel)，能夠顯著地提高訊噪比(S/N)，並採用透過二次靶材而非直接以光源激發，與以往相比，在敏感度上有更進一步的改善，因此可分析元素涵蓋範圍更完整(Na-U)。





產品特點






非破壞性分析11Na~92U
適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品
以極化光源激發,降低偵測極限
不須標準品即可進行半定量分析
以RPFSQX降低標準品需求
新的譜峰重疊處理方式減少干擾誤差
以EZ Analysis 簡化操作介面
NEXCGII+ 搭載  100 W高功率、65 kV高電壓X光管設計





應用範圍






硫(S)於柴油、汽油、石油、船用燃料或其他石油分餾物中的檢測
硫(S)、氯(Cl)、鈣(Ca)於廢油中的檢測
紙張與薄膜上矽膠塗層的檢測
轉化塗層的檢測
鈦(Ti)、鐵(Fe)、鋅(Zn)、硒(Se)、鋁(Al)、矽(Si)、氯(Cl)、鋯(Zr)於化妝品和身體護理產品中的檢測
鋅(Zn)、鈦(Ti)、鈣(Ca)、鐵(Fe)、銻(Sb)、溴(Br)、磷(P)於塑料中的檢測
RoHS檢測、無鹵分析管控、貴金屬回收Pt, Rh, Pd, Au, Ag等應用
塑膠製程Cl, Mg, Si, S, Ca, Ti, Mo, Sn在PVC樹酯
污水環境污染分析、水泥分析、採礦分析(Ni, Na2O, Au, Fe, Ca)
電子材料鍍層、半導體產業   油品分析低硫管控符合ASTM D7220、ASTM D4294、IP 532、EN ISO 8754、EN ISO 20847

 

參考影片

NEX DE VS




 




產品說明





NEX DE為優質高性能桌上型能量分散X射線螢光（EDXRF）元素分析儀，量身訂製Quant EZ軟體不僅操作介面簡單且符合日常分析與校準的各種需求，只須按照軟體的流程點選，即可引導使用者完成各種應用參數的設定。





產品特點






60kV,12W之X-射線光管:封閉式耦合Ag光管，更優越輕元素的分析表現
高速矽漂移檢測器(Fast SDD)新一代SDD檢測器具備最出色之光學解析及運算能力
可搭載CCD檢測器:可作微點分析，更適用於RoHS、WEEE及無鹵管控等環保檢測
可選配RFP-SQX 基礎參數(FP)運算法:特別於標準品不易取得或基質複雜時，可不需標準品即可進行的半定量分析
RFP-SQX 比對資料庫:Rigaku提供之資料庫可適用於各式樣品類型之比對，提供更多更精確的樣品資訊
EZ analysis介面更適合於各種日常分析:簡易的操作介面，即使是非技術人員，也可以輕易地上手
大空間樣品室:大樣品室，並可搭配各式放置樣品的轉盤及樣品杯
真空系統(可選配):可縮短真空抽氣時間，同時讓輕元素的檢測更靈敏
可拆式樣品盤:提供預先放入樣品並交替更換的選擇性，提高效率
光管維護:光管耗損最小化
安全薄膜:不須任何工具即可更換安全薄膜
數位資料輸出:支援數據輸出及LIMS實驗室管理系統
相容於Windows作業系統之軟體:Quant EZ軟體不僅能力非凡，且介面使用簡易，此乃Rigaku數十年，致力於XRF的努力所發展而來










參考影片

NEX DE


 
產品說明

Rigaku NEX CG II Series是能量分散式X射線螢光光譜儀(EDXRF)，廣範地應用在多樣化樣品的定量與半定量元素分析，濃度範圍從ppm至wt%。
​RPF-SQX理論定量軟體， Rigaku在軟體中利用此項技術，使其在幾乎所有類型的樣品中皆能夠進行半定量分析，此外也能夠在有標準品時進行精確的定量分析。軟體中亦運用Rigaku著名的分散基礎參數(fundamental parameter, FP)法，能夠自動估算未觀察的低原子序元素(H to F)的濃度，並給予適當的修正。藉由一個給定標準的校正擬合，相較於一般的EDXRF分析軟體，RPF-SQX 大量減少了標準品需求的數量，因此在標準品價格昂貴又難以取得的情況之下，RPF-SQX 更是能降低持有成本，並減少例行的工作量。

Rigaku NEX CG II Series搭載獨特的緊密耦合解析幾何光學核心(close-coupled Cartesian Geometry optical kernel)，能夠顯著地提高訊噪比(S/N)，並採用透過二次靶材而非直接以光源激發，與以往相比，在敏感度上有更進一步的改善，因此可分析元素涵蓋範圍更完整(Na-U)。


產品特點


非破壞性分析11Na~92U
適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品
以極化光源激發,降低偵測極限
不須標準品即可進行半定量分析
以RPFSQX降低標準品需求
新的譜峰重疊處理方式減少干擾誤差
以EZ Analysis 簡化操作介面
NEXCGII+ 搭載  100 W高功率、65 kV高電壓X光管設計



應用範圍


硫(S)於柴油、汽油、石油、船用燃料或其他石油分餾物中的檢測
硫(S)、氯(Cl)、鈣(Ca)於廢油中的檢測
紙張與薄膜上矽膠塗層的檢測
轉化塗層的檢測
鈦(Ti)、鐵(Fe)、鋅(Zn)、硒(Se)、鋁(Al)、矽(Si)、氯(Cl)、鋯(Zr)於化妝品和身體護理產品中的檢測
鋅(Zn)、鈦(Ti)、鈣(Ca)、鐵(Fe)、銻(Sb)、溴(Br)、磷(P)於塑料中的檢測
RoHS檢測、無鹵分析管控、貴金屬回收Pt, Rh, Pd, Au, Ag等應用
塑膠製程Cl, Mg, Si, S, Ca, Ti, Mo, Sn在PVC樹酯
污水環境污染分析、水泥分析、採礦分析(Ni, Na2O, Au, Fe, Ca)
電子材料鍍層、半導體產業   油品分析低硫管控符合ASTM D7220、ASTM D4294、IP 532、EN ISO 8754、EN ISO 20847

 

參考影片

NEX QC




 




產品說明





製程管控元素分析儀  油品、鍍液、塑膠、採礦等應用。





產品特點






可選配CCD攝影鏡頭可作微點分析
非破壞性分析11Na ~92U
適用於固體、液體、粉末、泥漿與薄膜樣品
高功率50KV 激發光源
搭配自動化濾光器提升靈敏度
全機觸控式操作介面
內建式印表機便於數據輸出




應用範圍






非破壞性分析11Na ~92U，適用於固體、液體、粉末與薄膜樣品
高功率50KV 激發光源、全機觸控式操作介面、可選配CCD攝影鏡頭可作微點分析
RoHS檢測、無鹵分析管控
電鍍液濃度分析(金、鎳、鐵、鋅等等)
塑膠添加劑成分分析
礦物金屬含量分析
鉻化砷銅(CCA)木材防腐前處理
化性阻燃劑15 P、35Br磷元素分析管控
油品分析 符合ASTM D4294、IP 496、IP336、EN ISO 8754、EN ISO 20847、JIS K 2541-4












參考影片

NEX QC+ QuantEZ




 




產品說明





Rigaku NEX QC+ QuantEZ能快速達到鈉(Na)~鈾(U)元素的定性與定量分析，並廣泛使用在各式樣品類型。
全機觸控式人性化操作介面，易於操作。
儀器設備整合電腦與熱印表機無需外接硬體，專為生產製程管控做最佳化、多功能的設計。
可與實驗室資訊管理系統(LIMS)或網路將分析儀做連結進行多端操控。
儀器設備選配：基本參數法(支援軟體)、氦氣填充裝置提升輕元素分析訊號靈敏度。





產品特點






非破壞性分析 Na(鈉) ~ U(鈾)
適用於固狀、液狀、粉末、泥漿與薄膜樣品
高功率50kV Xray 激發光源
全機觸控式操作介面
內建式印表機便於數據輸出
搭配自動化的濾光器提升靈敏度與選擇
搭配高精準度與低偵測極限性能的半導體 檢測器
可選配基本參數法(Fundamental Parameter) 解決無標準品的樣品分析，節省準備標準品的需求 










參考影片