X射線螢光分析儀(XRF)

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    NEX CG II Series

    NEX CG II Series





    全新推出 新一代NEX CG II Series提供更靈敏偵測極限能力




     




    產品說明





    Rigaku NEX CG II Series是能量分散式X射線螢光光譜儀(EDXRF),廣範地應用在多樣化樣品的定量與半定量元素分析,濃度範圍從ppm至wt%。
    ​RPF-SQX理論定量軟體, Rigaku在軟體中利用此項技術,使其在幾乎所有類型的樣品中皆能夠進行半定量分析,此外也能夠在有標準品時進行精確的定量分析。軟體中亦運用Rigaku著名的分散基礎參數(fundamental parameter, FP)法,能夠自動估算未觀察的低原子序元素(H to F)的濃度,並給予適當的修正。藉由一個給定標準的校正擬合,相較於一般的EDXRF分析軟體,RPF-SQX 大量減少了標準品需求的數量,因此在標準品價格昂貴又難以取得的情況之下,RPF-SQX 更是能降低持有成本,並減少例行的工作量。

    Rigaku NEX CG II Series搭載獨特的緊密耦合解析幾何光學核心(close-coupled Cartesian Geometry optical kernel),能夠顯著地提高訊噪比(S/N),並採用透過二次靶材而非直接以光源激發,與以往相比,在敏感度上有更進一步的改善,因此可分析元素涵蓋範圍更完整(Na-U)。





    產品特點






    非破壞性分析11Na~92U
    適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品
    以極化光源激發,降低偵測極限
    不須標準品即可進行半定量分析
    以RPFSQX降低標準品需求
    新的譜峰重疊處理方式減少干擾誤差
    以EZ Analysis 簡化操作介面
    NEXCGII+ 搭載  100 W高功率、65 kV高電壓X光管設計





    應用範圍






    硫(S)於柴油、汽油、石油、船用燃料或其他石油分餾物中的檢測
    硫(S)、氯(Cl)、鈣(Ca)於廢油中的檢測
    紙張與薄膜上矽膠塗層的檢測
    轉化塗層的檢測
    鈦(Ti)、鐵(Fe)、鋅(Zn)、硒(Se)、鋁(Al)、矽(Si)、氯(Cl)、鋯(Zr)於化妝品和身體護理產品中的檢測
    鋅(Zn)、鈦(Ti)、鈣(Ca)、鐵(Fe)、銻(Sb)、溴(Br)、磷(P)於塑料中的檢測
    RoHS檢測、無鹵分析管控、貴金屬回收Pt, Rh, Pd, Au, Ag等應用
    塑膠製程Cl, Mg, Si, S, Ca, Ti, Mo, Sn在PVC樹酯
    污水環境污染分析、水泥分析、採礦分析(Ni, Na2O, Au, Fe, Ca)
    電子材料鍍層、半導體產業   油品分析低硫管控符合ASTM D7220、ASTM D4294、IP 532、EN ISO 8754、EN ISO 20847

     

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    線上製程監控

    線上製程監控


     
    產品說明

    工業4.0 是近年來,由歐美國家先提出的一個新概念,許多先進國家也已朝向此目標在努力發展中,目的是希望能將生產與製造的流程,加強自動化變得更有效率,搭配大數據以及結合物聯網,使其變得更有彈性,更能符合消費者的特定需求。
    而當提到製造流程中的品質保證與製程管控時,若生產數據可以被及時的分析,則能有效地節省時間與人力成本,並且維持產品的穩定性,增加生產效率。

    佳展科技擁有30年的線上設備安裝與服務經驗,有專業的團隊可提供應用技術服務、報告及相關文獻撰寫 , 並協助銷售儀器的維護服務。
    修服務部門可提供完整的硬體維修及組裝,將儀器維持最佳化性能。
    佳展科技的每一位工程師皆受過原廠完整教育訓練,取得原廠受訓證明合格證書。
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    NEX OL

    NEX OL


     
    產品說明

    NEX OL能快速完成鋁(Al)~鈾(U)元素的定性與定量分析。廣泛使用於各式化學、電鍍液、銅箔產業的線上元素濃度監控。並可將即時的濃度訊號傳送至中控電腦,使用者可於中控室監控鍍液槽情況。儀器設備整合坎入式電腦,全機觸控式人性化操作介面,相當容易上手。使用單位可依需求設定分析時間週期參數,人員亦無需採樣或定時分析,達到產線自動化目的。

    產品特點


    即時監控線上製程元素濃度變化
    元素範圍:鋁(Al) ~ 鈾(U)
    濃度範圍:ppm等級至重量百分比(wt%)
    全機觸控式操作介面
    高精準度性能極佳的矽半導體檢測器(SDD)
    無危害放射性射源
    全機抗腐蝕耐酸鹼材質
    分流檢測技術,不需停機取樣




     

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    ZSX Primus IV

    ZSX Primus IV


     
    產品說明

    Primus IV可做高功率WDXRF微區分析、薄膜分析。

    產品特點


    非破壞性分析4Be~92U
    適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品
    以極化光源激發,降低偵測極限
    不需標準品即可進行半定量分析
    以RPF-SQX降低標準品需求
    新的譜峰重疊處理方式減少干擾誤差
    以EZ Analysis簡化操作介面




    應用範圍




    石油產品和潤滑劑中的硫16S 和其他元素分析
    原始材料中的主量和次量氧化物分析
    食品和化學產品中的主量和微量元素以及污染物
    電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業
    鋼鐵工業、冶金、金屬工業
    地質礦產(石灰石、礦沙、鋁土礦、礦渣)
    塑膠以及高分子材料分析
    微區分析、薄膜分析


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    Supermini 200

    Supermini 200


     
    產品說明

    Rigaku Supermini 200 XRF 元素分析儀,是世界第一台桌上型高功率WDXRF。

    產品特點


    可分析元素範圍氧(O)- 鈾(U)
    高功率波長分散式X射線螢光元素分析儀(WDXRF)
    自動進樣器(12個進樣盤規格)
    適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品
    ​低耗材成本、經濟型WDXRF




    應用範圍




    環境檢測
    食品檢測
    農業化學
    石化工業
    醫藥化學


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    ZSX Primus III NEXT

    ZSX Primus III NEXT


     
    產品說明

    ZSX Primus III NEXT為研究型高階掃描式WDXRF 元素分析儀。可進行高功率WDXRF微區分析、薄膜分析。

    產品特點


    非破壞性分析4Be~92U
    適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品
    以極化光源激發,降低偵測極限
    不需標準品即可進行半定量分析
    以RPF-SQX降低標準品需求
    新的譜峰重疊處理方式減少干擾誤差
    以EZ Analysis簡化操作介面




    應用範圍




    石油產品和潤滑劑中的硫16S 和其他元素分析
    原始材料中的主量和次量氧化物分析
    食品和化學產品中的主量和微量元素以及污染物
    電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業
    鋼鐵工業、冶金、金屬工業
    地質礦產(石灰石、礦沙、鋁土礦、礦渣)
    塑膠以及高分子材料分析
    微區分析、薄膜分析


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    Simultix 15

    Simultix 15




     




    產品說明





    Simultix 15為快速、同步式WDXRF 元素分析儀,是Rigaku 最新一代機種。





    產品特點






    滿足鋼鐵、水泥、化學、金屬工業的元素分析需求
    快速!!同步直讀光譜設計,多元素同時檢測
    已世界銷售1000台Simultix系列
    兼具掃描式功能元件、提供半定量分析需求
    固定式光學通道,提高儀器穩定性、高再現性分析
    銅、鐵、鎳合金分析、滿足鋼鐵、水泥、化學、金屬工業的元素分析需求






    應用範圍








    環境檢測
    食品檢測
    農業化學
    石化工業
    醫藥化學
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    Mini-Z Zr _shadow__picture.jpg

    Primini

    Mini-Z




     
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    Primini

    Primini




     
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    Micro-Z ULS

    Micro-Z ULS




     
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    NEX DE VS

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    產品說明





    NEX DE為優質高性能桌上型能量分散X射線螢光(EDXRF)元素分析儀,量身訂製Quant EZ軟體不僅操作介面簡單且符合日常分析與校準的各種需求,只須按照軟體的流程點選,即可引導使用者完成各種應用參數的設定。





    產品特點






    60kV,12W之X-射線光管:封閉式耦合Ag光管,更優越輕元素的分析表現
    高速矽漂移檢測器(Fast SDD)新一代SDD檢測器具備最出色之光學解析及運算能力
    可搭載CCD檢測器:可作微點分析,更適用於RoHS、WEEE及無鹵管控等環保檢測
    可選配RFP-SQX 基礎參數(FP)運算法:特別於標準品不易取得或基質複雜時,可不需標準品即可進行的半定量分析
    RFP-SQX 比對資料庫:Rigaku提供之資料庫可適用於各式樣品類型之比對,提供更多更精確的樣品資訊
    EZ analysis介面更適合於各種日常分析:簡易的操作介面,即使是非技術人員,也可以輕易地上手
    大空間樣品室:大樣品室,並可搭配各式放置樣品的轉盤及樣品杯
    真空系統(可選配):可縮短真空抽氣時間,同時讓輕元素的檢測更靈敏
    可拆式樣品盤:提供預先放入樣品並交替更換的選擇性,提高效率
    光管維護:光管耗損最小化
    安全薄膜:不須任何工具即可更換安全薄膜
    數位資料輸出:支援數據輸出及LIMS實驗室管理系統
    相容於Windows作業系統之軟體:Quant EZ軟體不僅能力非凡,且介面使用簡易,此乃Rigaku數十年,致力於XRF的努力所發展而來










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    NEX DE

    NEX DE


     
    產品說明

    Rigaku NEX CG II Series是能量分散式X射線螢光光譜儀(EDXRF),廣範地應用在多樣化樣品的定量與半定量元素分析,濃度範圍從ppm至wt%。
    ​RPF-SQX理論定量軟體, Rigaku在軟體中利用此項技術,使其在幾乎所有類型的樣品中皆能夠進行半定量分析,此外也能夠在有標準品時進行精確的定量分析。軟體中亦運用Rigaku著名的分散基礎參數(fundamental parameter, FP)法,能夠自動估算未觀察的低原子序元素(H to F)的濃度,並給予適當的修正。藉由一個給定標準的校正擬合,相較於一般的EDXRF分析軟體,RPF-SQX 大量減少了標準品需求的數量,因此在標準品價格昂貴又難以取得的情況之下,RPF-SQX 更是能降低持有成本,並減少例行的工作量。

    Rigaku NEX CG II Series搭載獨特的緊密耦合解析幾何光學核心(close-coupled Cartesian Geometry optical kernel),能夠顯著地提高訊噪比(S/N),並採用透過二次靶材而非直接以光源激發,與以往相比,在敏感度上有更進一步的改善,因此可分析元素涵蓋範圍更完整(Na-U)。


    產品特點


    非破壞性分析11Na~92U
    適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品
    以極化光源激發,降低偵測極限
    不須標準品即可進行半定量分析
    以RPFSQX降低標準品需求
    新的譜峰重疊處理方式減少干擾誤差
    以EZ Analysis 簡化操作介面
    NEXCGII+ 搭載  100 W高功率、65 kV高電壓X光管設計



    應用範圍


    硫(S)於柴油、汽油、石油、船用燃料或其他石油分餾物中的檢測
    硫(S)、氯(Cl)、鈣(Ca)於廢油中的檢測
    紙張與薄膜上矽膠塗層的檢測
    轉化塗層的檢測
    鈦(Ti)、鐵(Fe)、鋅(Zn)、硒(Se)、鋁(Al)、矽(Si)、氯(Cl)、鋯(Zr)於化妝品和身體護理產品中的檢測
    鋅(Zn)、鈦(Ti)、鈣(Ca)、鐵(Fe)、銻(Sb)、溴(Br)、磷(P)於塑料中的檢測
    RoHS檢測、無鹵分析管控、貴金屬回收Pt, Rh, Pd, Au, Ag等應用
    塑膠製程Cl, Mg, Si, S, Ca, Ti, Mo, Sn在PVC樹酯
    污水環境污染分析、水泥分析、採礦分析(Ni, Na2O, Au, Fe, Ca)
    電子材料鍍層、半導體產業   油品分析低硫管控符合ASTM D7220、ASTM D4294、IP 532、EN ISO 8754、EN ISO 20847

     

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